STATISTICA Cartes de Contrôle vous propose une large gamme de techniques de contrôle qualité (avec des cartes de contrôle d'une grande qualité) d'une souplesse et d'une richesse incomparables. Ce produit est idéal, pour les systèmes de contrôle qualité automatisés en atelier, quel que soit le type et le niveau de complexité, comme pour les systèmes sophistiqués d'analyse et de recherche d'amélioration de la qualité. Diverses options d'automatisation et raccourcis d'interface-utilisateur vous permettent de simplifier encore vos travaux routiniers ; en outre, la plupart des options de mise en forme graphique et spécifications peuvent être modifiées de façon permanente (enregistrées comme les paramètres par défaut du système ou comme des modèles réutilisables). Enfin, notez que STATISTICA Cartes de Contrôle met à votre disposition diverses fonctionnalités puissantes et simples à utiliser pour créer de nouvelles procédures analytiques et les ajouter de façon permanente à votre application (par exemple, en les affectant à des boutons sur des barres d'outils flottantes), et ces options s'avèrent particulièrement utiles lorsque des analyses de contrôle qualité doivent s'intégrer dans un système de collecte/contrôle des données.

Cartes standard. Le programme vous permet d'utiliser des diagrammes de Pareto, cartes X-barre, R, S, S² (variance), C, N_p (effectifs binomiaux), P (proportions binomiales), U, CuSum (somme cumulée) avec masque V (les masques V se déplacent automatiquement pour détecter les points atypiques), des cartes d'étendues mobiles, cartes individuelles (pour des observations individuelles), cartes de contrôle de régression, cartes de contrôle multivariées (cartes T² de Hotteling), cartes MA (moyennes mobiles) et EWMA (moyennes mobiles exponentiellement pondérées). Ces cartes peuvent être basées sur des valeurs personnalisées ou sur des paramètres (moyennes, étendues, proportions, etc...) calculés à partir des données. La plupart des cartes de contrôle de variables peuvent être construites à partir d'observations individuelles (par exemple, cartes d'étendue mobile) ou d'échantillons constitués de plusieurs observations. Vous pouvez spécifier des limites de contrôle en termes de sigma (par exemple, 3 * sigma), de probabilités normales ou non (courbes de Johnson) (par exemple, p=.01, .99), ou encore de constantes. Pour des échantillons de taille inégale, les cartes de contrôle peuvent être calculées avec des limites de contrôle variables ou des limites basées sur des valeurs standardisées. Plusieurs groupes de spécifications peuvent être utilisés sur la même carte (par exemple, les limites de contrôle pour tous les nouveaux échantillons peuvent être calculées en utilisant un sous-ensemble d'échantillons précédents, etc...). Comme pour tous les graphiques STATISTICA, vous pouvez personnaliser vos cartes de contrôle dans STATISTICA Cartes de Contrôle ; vous pouvez ajouter des titres, commentaires, tracer des lignes ou marquer des zones dynamiquement ancrées à des valeurs d'échelle spécifiques, ou étiqueter les échantillons avec des dates, identifiants, etc...

Balayage analytique interactif et étiquetage des points.  Des outils généraux "intelligents" et complets vous permettent, de manière interactive, de supprimer ou étiqueter des points aberrants (ou réaliser des analyses conditionnelles) sur des cartes individuelles ou sur des ensembles de cartes. L'utilisateur peut sélectionner des échantillons individuels ou des groupes d'échantillons sur la base des critères spécifiés pour la carte courante (limites de contrôle, tests des séries), et les exclure des calculs de la carte (mais en continuant à les faire apparaître sur la carte) ou même les éliminer totalement de la carte. Vous pouvez utiliser les mêmes critères d'inclusion/exclusion d'échantillons sur plusieurs cartes ; de cette manière, vous pouvez balayer plusieurs cartes simultanément (par exemple, un point exclu d'une carte X-barre et d'une carte R sera simultanément exclu de tous les histogrammes). L'utilisateur peut également demander à représenter toutes les observations individuelles pour les échantillons sélectionnés (ou tous les échantillons).

Assigner des causes et des actions.  L'utilisateur a la possibilité d'assigner des causes, actions, et/ou commentaires aux points aberrants ou tout autre point de la carte. Les étiquettes des causes et actions peuvent être affectées par un balayage interactif, mais vous pouvez aussi laisser le programme détecter et sélectionner les échantillons hors-contrôle.

Un système flexible et personnalisable de notification d'alarme.  De nombreuses options vous sont proposées pour spécifier vos propres critères de définition des conditions hors-contrôle ou des "événements notables" (par exemple, violation d'un test des séries, observation individuelle en dehors des limites de spécifications, etc...). Le système de notification d'alarme peut être personnalisé pour déclencher divers types de "réponses" lorsqu'un événement particulier se produit ; par exemple, vous pouvez mettre en place un système qui va automatiquement se déclencher en cas d'échantillon hors-contrôle. STATISTICA Cartes de Contrôle va automatiquement demander à l'opérateur d'entrer une cause, puis exécuter un programme STATISTICA BASIC afin de calculer diverses statistiques ou lancer une application externe qui (par exemple) appellera un radio-messager de poche et enverra un e-mail aux superviseurs. La configuration des notifications d'alarme peut être sauvegardée dans un fichier (et utilisée pour de nouvelles cartes), ou utilisées comme paramètres par défaut pour toutes les nouvelles cartes.

Mode superviseur et opérateur ; protection par mot de passe. Toutes les fonctions d'édition des cartes (en particulier, l'affectation de causes, actions, balayage, notification d'alarme, etc...), spécifications de cartes ou le fichier de données lui-même peuvent être protégés par un mot de passe, afin de créer un mode opérateur personnalisé avec un accès limité aux cartes ou aux données. Les cartes peuvent être enregistrées (par exemple, par le superviseur), et ouvertes par l'opérateur en mode accès-limité.

Organisation des données. Pour la plupart des cartes, les données peuvent être organisées de diverses manières de façon à s'adapter au format dans lesquels les données sont collectées par les applications de contrôle qualité. Les échantillons peuvent être référencés par leur identifiant ou numéro de code, mais vous pouvez aussi spécifier un nombre constant de mesures par échantillon (et pièce, voir ci-dessous).

Cartes petites séries. La plupart des cartes de contrôle standard de variables (X-barre, R, S, S², MA, EWMA) et aux attributs (C, U, P, Np) peuvent être utilisées pour des séries de production en petites séries (cartes petites séries pour plusieurs pièces ou machines). Pour les cartes de contrôle petites séries de variables, vous pouvez ne spécifier que les valeurs cible nominales (carte nominale ou carte cible), mais aussi des valeurs cible et des valeurs de dispersion pour des cartes petites séries standardisées. Les échantillons des cartes respectives peuvent être triés et tracés en fonction du numéro d'échantillon, de pièce, ou dans l'ordre chronologique dans lequel les échantillons respectifs ont été tirés. Des statistiques détaillées sont calculées par pièce et par échantillon. Les identifiants respectifs d'échantillon et de pièce pour chaque mesure peuvent être spécifiés dans le fichier de données et/ou vous pouvez affecter un certain nombre d'observations consécutives à des échantillons et/ou pièces consécutifs. Notez que toutes les options et statistiques des cartes (indices de capabilité et de performance, tests des séries, etc...) habituellement reportées sur les cartes standard sont également disponibles pour les cartes petites séries.

Cartes multi-groupes (cartes de groupes et cartes petites séries de groupes). Les cartes de contrôle de variable et aux attributs peuvent être calculées pour des processus multi-groupes (par exemple, opérateurs, machines, chaînes de montage) ; la carte multi-groupes obtenue synthétise les mesures de tous les groupes simultanément. Ces cartes peuvent également être produites pour des séries de production courtes, les mesures étant alors représentées sur des cartes petites séries de groupes. Outre les paramètres standard permettant de déterminer les limites et autres caractéristiques des cartes de contrôle, vous pouvez spécifier le nombre de points consécutifs r du même groupe dans le processus (c'est-à-dire, les "séries" de longueur r) que vous souhaitez voir apparaître en surbrillance dans la carte ; le programme calcule également la période opérationnelle moyenne sur la base de la valeur r spécifiée par l'utilisateur.

Statistiques et options des cartes. D'autres statistiques se rapportant au contrôle qualité sont également proposées. L'utilisateur peut calculer les indices de capabilité et de performance du processus (par exemple, les C_pk, P_pk, etc... pour des distributions normales, ou C_pk, P_pk, etc... pour des distributions non normales), produire les histogrammes des caractéristiques de qualité respectives, ou réaliser automatiquement l'un des sept tests des séries disponibles. Les cartes de contrôle standard de variables peuvent être produites sous forme de graphiques composés ; par exemple, les cartes X-barre, R (ou S, ou S²) sont représentées avec les histogrammes facultatifs de moyennes, étendues, proportions, etc... respectifs, sur la même carte. Les points atypiques (échantillons situés au-delà des limites de contrôle) ou données identifiées par un test des séries sont automatiquement mis en surbrillance (marqués) dans les tracés. L'utilisateur peut aussi ajouter des droites d'avertissement, courbes de moyennes mobiles ou de moyennes mobiles exponentiellement pondérées, ou droites indiquant les intervalles de spécification.

Limites de contrôle et indices de capabilité/performance du processus non normaux. Pour les cartes de contrôle de variables, outre les statistiques et cartes basées sur la Loi Normale, le programme calcule des cartes pour des mesures qui ne sont pas distribuées normalement (par exemple, très asymétriques). Ces options sont très importantes dans des situations où les tailles d'échantillon sont faibles (et où, en conséquence, des écarts à la normalité pourraient mener à des taux d'erreur exagérés ou sous-estimés si les statistiques basées sur la Loi Normale étaient utilisées). Le programme calcule des limites de contrôle basées sur l'ajustement des courbes de Johnson aux quatre premiers moments (moyenne, écart-type, asymétrie, et aplatissement) des données observées ; des valeurs personnalisées pour les moments peuvent aussi être utilisées. Les indices de capabilité du processus peuvent être calculés à partir de l'ajustement des courbes de Johnson et de Pearson. Notez qu'il est également possible de calculer des indices de capabilité basés sur des distributions spécifiques dans STATISTICA Analyse de Processus.

Autres tracés et feuilles de résultats. Pour la plupart des cartes (en particulier la carte R), l'utilisateur peut calculer et représenter les courbes d'efficacité respectives. Outre les cartes, les valeurs respectives (représentées sur les cartes) peuvent également être affichées dans des feuilles de résultats, ce qui permet à l'utilisateur de visualiser les valeurs précises des droites et des points représentés. Vous pouvez imprimer des cartes personnalisées (vierges) que l'ingénieur pourra ultérieurement "compléter" à la main s'il le souhaite. Notez que comme tous les autres graphiques de STATISTICA, les graphiques produits par STATISTICA Cartes de Contrôle peuvent être personnalisés à façon et enregistrés pour d'autres analyses et/ou personnalisations.

Systèmes de contrôle qualité en temps réel ; sources de données externes. La plupart des graphiques et cartes de contrôle de STATISTICA Cartes de Contrôle peuvent être automatiquement liés aux données et mis à jour dès que les données sont mises à jour. Afin de faciliter le transfert des données, trois applications STATISTICA (complémentaires) puissantes sont disponibles (Kit de Connexion de STATISTICA, SEWSS, SENS).

Kit de Connexion de STATISTICA. Le Kit de Connexion de STATISTICA offre diverses options permettant de configurer de manière simple le transfert des données pour des applications individuelles (mono-poste). Le Kit de Connexion de STATISTICA vous permet d'accéder à des données résidant dans des bases de données externes ou de lier à vos cartes de contrôle, des données issues d'appareils de mesures externes (par exemple, instruments de laboratoire, balances, analyseurs, spectromètres, titreurs, PH & Ion mètres, ou la plupart des instruments de collecte de données pouvant être reliés au port série de votre ordinateur).

Système Entreprise de STATISTICA (SENS). SENS est une version groupware de STATISTICA, totalement intégrée à un système centralisé de data warehouse offrant une interface générale efficace avec les systèmes stockage des données de l'entreprise et permettant de partager ses projets et travaux (fonctionnalité groupware extensive).

STATISTICA Enterprise Wide SPC System (SEWSS). SEWSS est un logiciel intégré multi-utilisateurs donnant accès à des fonctionnalités complètes de MSP (Maîtrise Statistique des Procédés)/SPC (Statistical Process Control) pour les installations en entreprise. SEWSS se compose d'une base de données centralisée, et de tous les outils nécessaires au traitement et au suivi des données issues de différents canaux, ainsi qu'à la coordination des travaux de différents opérateurs, ingénieurs qualité et superviseurs.

SEWSS et SENS vous offrent des fonctionnalités très souples pour intégrer les procédures de STATISTICA Cartes de Contrôle dans votre base de données d'entreprise, et pour créer des systèmes de suivi-qualité à l'échelle de l'entreprise.